超级X射线面密度测量仪

可适应1600mm以上涂层宽度的测量。支持超高速扫描。

可以检测到诸如变薄区域、划痕、陶瓷边缘等细小的特征。

产品详情

当射线照射到电极上时，射线会被电极吸收、反射和散射，导致透射电极后的射线强度相对于入射射线强度有一定的衰减，其衰减率与电极的重量或面密度成负指数关系。

I=I_0 e^−λm⇒m= 1/λln(I_0/I)

I_0：初始射线强度

I ：发射电极后的射线强度

λ ：测量物体的吸收系数

m ：测量物体的厚度/面密度

半导体传感器与激光传感器测量的比较

● 详细轮廓及特征测量：高速、高精度（60米/分钟）毫米级空间分辨率面密度轮廓测量

● 超宽测量：适应1600mm以上宽度的涂层。

● 超高速扫描：扫描速度0-60米/分钟可调。

● 用于电极测量的创新半导体射线探测器：响应速度比传统解决方案快10倍。

● 高速高精度直线电机驱动：扫描速度较传统方案提高3-4倍。

● 自主研发的高速测量电路：采样频率高达200kHZ，提高了闭环涂胶的效率和精度。

● 减薄能力损失计算：光斑宽度最小可达1mm，可精确测量边缘减薄区域轮廓、电极药皮划痕等细节特征。

测量系统主界面可定制显示

● 间伐面积确定

● 容量确定

● 划痕测定

物品	范围
辐射防护	距设备表面100mm处辐射剂量小于1μsv/h
扫描速度	0-60米/分钟可调
采样频率	200千赫兹
响应时间	＜0.1毫秒
测量范围	10-1000克/平方米
光斑宽度	1mm、3mm、6mm可选
测量精度	压差/温度≤10%16秒内积分：±2σ：≤±真值×0.2‰或±0.06g/平方米；±3σ：≤±真值×0.25‰或±0.08g/平方米；4秒积分：±2σ：≤±真值×0.4‰或±0.12g/平方米；±3σ：≤±真值×0.6‰或±0.18g/平方米；