薄膜平整度仪
平整度测量的原理
设备测量模块由一个激光位移传感器组成，将铜箔/铝箔/隔膜等基材在一定的张力下拉伸后，激光位移传感器测量基材波面的位置，进而计算出被测薄膜在不同张力下的位置差。如图所示：位置差C=BA。
光透射激光传感器测量原理
注：此测量元件为双模半自动薄膜平整度测量仪（选配），部分设备不包含此透光激光传感器。
利用CCD光透射激光传感器进行厚度测量，激光发射器发射的一束激光穿过被测物体后被CCD受光元件接收，当被测物体位于发射器和接收器之间时，在接收器上形成一个阴影，通过检测被测物体由亮到暗、由暗到亮的变化，可以精确测量被测物体的位置。
技术参数
| 姓名 | 索引 |
| 适用材料类型 | 铜铝箔、隔膜 |
| 张力范围 | ≤2~120N，可调 |
| 测量范围 | 300毫米-1800毫米 |
| 扫描速度 | 0~5米/分钟，可调 |
| 厚度重复精度 | ±3σ：≤±0.4毫米； |
| 总体功率 | <3瓦 |
关于我们
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